Hitachi High - Tech (shanghai) International Trade co., Ltd.
Casa>.Productos>.Microscopio de sonda de escaneo multifuncional afm100 plus / sistema afm100
Microscopio de sonda de escaneo multifuncional afm100 plus / sistema afm100
El sistema afm100 plus / afm100 es un sistema universal de microscopía de sonda de escaneo de alta resolución con el objetivo de popularizar las aplic
Detalles del producto

Microscopio de sonda de escaneo multifuncional afm100 plus / sistema afm100

  • Consulta
  • Imprimir

多功能扫描探针显微镜AFM100 Plus /AFM100 系统

El sistema afm100 plus / afm100 es un sistema universal de microscopía de sonda de escaneo de alta resolución con el objetivo de popularizar las aplicaciones de AFM en diversas ocasiones, como investigación y desarrollo, producción y educación, y perseguir la operatividad, fiabilidad y observación eficiente.

  • Características

Características

El sistema de sonda preinstalado realiza un reemplazo confiable de la sonda

Medición / Procesamiento / análisis automático con un solo clic

Uso de la función de etiquetado AFM para realizar la observación y análisis de AFM - Sem - EDS en el mismo campo de visión

Datos de aplicación

Se presentan los datos de aplicación del microscopio de sonda de escaneo.

Explicación

Explique los principios y varios principios de Estado de la microscopía de túnel de escaneo (stm) y la microscopía de fuerza atómica (afm).

Historia y desarrollo del SPM

Describe la historia y el desarrollo de nuestro microscopio de sonda de escaneo y nuestro equipo. (Global site)

Consulta en línea
  • Contactos
  • Empresa
  • Teléfono
  • Correo electrónico
  • Wechat
  • Código de verificación
  • Contenido del mensaje

¡¡ la operación fue exitosa!

¡¡ la operación fue exitosa!

¡¡ la operación fue exitosa!